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光譜儀器

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Omni-S系列“影像譜王”光柵光譜儀/ 單色儀
Omni-S系列“影像譜王”光柵光譜儀/ 單色儀在成像、光譜分析和適用性方面都明顯增強。500S采用非對稱的光路設計，提供優(yōu)秀成像質量的同時，有效消除光柵多次衍射產生的雜散光。新增電動調焦功能，適用多種焦深相機，焦距調整方便快捷，多光柵焦距獨立調整保證最佳分辨率性能。

產品型號：
Omni-500S系列

廠商性質：
生產廠家

更新時間：
2026-05-21

瀏覽次數：
104
高性能自感知探針原子力顯微鏡
高性能自感知探針原子力顯微鏡。0.8NA超大光學收集孔徑；測量時無外界光干擾；采用壓電自感知探針；可升級超分辨近場光譜成像；

產品型號：
SuperSPM-C

廠商性質：
生產廠家

更新時間：
2026-05-19

瀏覽次數：
125
拉曼-AFM聯(lián)用系統(tǒng)
拉曼-AFM聯(lián)用系統(tǒng)，采用標準顯微鏡，自感知探針AFM和高NA物鏡，實現Raman-AFM聯(lián)用。AFM 揭示了納米尺度上的結構(地形)和機械信息(例如，剛度或楊氏模量，粘度，局部粘附力) ，與拉曼顯微鏡在亞微米尺度上提供的化學信息相互補充。

產品型號：
SuperSPM-R900

廠商性質：
生產廠家

更新時間：
2026-05-19

瀏覽次數：
108
偏振二次諧波掃描成像系統(tǒng)
偏振二次諧波掃描成像系統(tǒng)，采用共聚焦的激發(fā)和收集方式，可實現帶偏振的二次諧波成像。該系統(tǒng)可以與用戶的飛秒激光器耦合，實現全電動化偏振分辨的微區(qū)二次諧波測試

產品型號：
MAPS-SHG系列

廠商性質：
生產廠家

更新時間：
2026-05-19

瀏覽次數：
109
反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)
反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)采用“所見即所得”的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時看到測量光斑，成像與測量光路通過電機切換。標準系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對于特殊波段可進行優(yōu)化設計及光路定制

產品型號：
MAPS-TR

廠商性質：
生產廠家

更新時間：
2026-05-18

瀏覽次數：
224
低溫/磁場微區(qū)光譜測試系統(tǒng)
低溫/磁場微區(qū)光譜測試系統(tǒng)解決方案。它支持最高達12 T磁場，低至2.8 K環(huán)境下的微區(qū)光學測試。包括熒光，熒光壽命，反射光譜，拉曼光譜，偏振分辨二次諧波，光電流，磁光克爾與反射磁圓二色。主要應用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征，居里溫度表征，表面拓撲磁結構表征，磁疇掃描成像

產品型號：
MAPS-LTMS系列

廠商性質：
生產廠家

更新時間：
2026-05-18

瀏覽次數：
106

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