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產(chǎn)品分類Product Categories

光譜儀器

VPH成像光譜儀其他 X射線衍射儀激光器光電模組與系統(tǒng) 微區(qū)磁光及角分辨原子光譜門控相機(jī)/分幅相機(jī) 綜合光電性能測(cè)試系統(tǒng) 高光譜相機(jī) 高光譜分選儀拉曼光譜儀傅里葉紅外光譜儀太陽模擬器熒光光譜分析儀（系統(tǒng)）光致發(fā)光光譜儀激光閃光光解光譜儀太陽能電池檢測(cè)儀器（系統(tǒng)）伏安特性測(cè)試系統(tǒng) 光譜測(cè)量系統(tǒng) 光源高光譜影像光譜儀微弱信號(hào)處理器光譜儀，單色儀，攝譜儀光譜系統(tǒng)關(guān)聯(lián)產(chǎn)品紫外可見分光光度計(jì) 標(biāo)準(zhǔn)白板探測(cè)器標(biāo)定測(cè)光儀器樣品室
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偏振二次諧波掃描成像系統(tǒng)
偏振二次諧波掃描成像系統(tǒng)，采用共聚焦的激發(fā)和收集方式，可實(shí)現(xiàn)帶偏振的二次諧波成像。該系統(tǒng)可以與用戶的飛秒激光器耦合，實(shí)現(xiàn)全電動(dòng)化偏振分辨的微區(qū)二次諧波測(cè)試

產(chǎn)品型號(hào)：
MAPS-SHG系列

廠商性質(zhì)：
生產(chǎn)廠家

更新時(shí)間：
2026-05-19

瀏覽次數(shù)：
75
反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)
反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)采用“所見即所得”的測(cè)量方式，即反射與透射測(cè)量方式均能在直接觀測(cè)樣品成像時(shí)看到測(cè)量光斑，成像與測(cè)量光路通過電機(jī)切換。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測(cè)試需求，對(duì)于特殊波段可進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)及光路定制

產(chǎn)品型號(hào)：
MAPS-TR

廠商性質(zhì)：
生產(chǎn)廠家

更新時(shí)間：
2026-05-18

瀏覽次數(shù)：
165
低溫/磁場(chǎng)微區(qū)光譜測(cè)試系統(tǒng)
低溫/磁場(chǎng)微區(qū)光譜測(cè)試系統(tǒng)解決方案。它支持最高達(dá)12 T磁場(chǎng)，低至2.8 K環(huán)境下的微區(qū)光學(xué)測(cè)試。包括熒光，熒光壽命，反射光譜，拉曼光譜，偏振分辨二次諧波，光電流，磁光克爾與反射磁圓二色。主要應(yīng)用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征，居里溫度表征，表面拓?fù)浯沤Y(jié)構(gòu)表征，磁疇掃描成像

產(chǎn)品型號(hào)：
MAPS-LTMS系列

廠商性質(zhì)：
生產(chǎn)廠家

更新時(shí)間：
2026-05-18

瀏覽次數(shù)：
71
微區(qū)-磁光克爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出微區(qū)-磁光克爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)，可根據(jù)用戶需求提供定制化解決方案，產(chǎn)品范圍涵蓋微區(qū)磁光克爾系統(tǒng)和磁圓二色測(cè)試系統(tǒng)，并可根據(jù)用戶需求升級(jí)拓展拉曼，熒光，熒光壽命及二次諧波等模塊，可用于檢測(cè)樣品表面磁性和磁疇結(jié)構(gòu)，適用于磁性材料、二維鐵磁材料和自旋電子器件等應(yīng)用領(lǐng)域。

產(chǎn)品型號(hào)：

廠商性質(zhì)：
生產(chǎn)廠家

更新時(shí)間：
2024-11-26

瀏覽次數(shù)：
2459

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